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簡要描述:ML-200S涂層測(cè)厚儀 采用了磁性和渦流兩種測(cè)厚方法,即可測(cè)量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度又可測(cè)量非磁性金屬基體上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度。
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詳細(xì)介紹
品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,化工,地礦,建材,綜合 |
ML-200S涂層測(cè)厚儀
l 具有兩種測(cè)量方式:連續(xù)測(cè)量方式(Free running mode)和單次測(cè)量方式
l 具有三種測(cè)量模式:高精度測(cè)量模式可對(duì)多次測(cè)量取平均,并對(duì)可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行自動(dòng)過濾,可確保測(cè)量值更加準(zhǔn)確、穩(wěn)定;快速測(cè)量模式可實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)掃描功能。
l 具有溫度補(bǔ)償功能:實(shí)時(shí)溫度補(bǔ)償技術(shù)可自動(dòng)對(duì)環(huán)境溫度及測(cè)頭溫度改變引起的測(cè)量誤差進(jìn)行補(bǔ)償,使測(cè)量更準(zhǔn)確。
l 設(shè)有五個(gè)統(tǒng)計(jì)量:平均值(MEAN)、Z大值(MAX)、Z小值(MIN)測(cè)試次數(shù)(NO.)、標(biāo)準(zhǔn)偏差(S.DEV)。
l 可采用零點(diǎn)校準(zhǔn)、單點(diǎn)校準(zhǔn)或兩點(diǎn)校準(zhǔn)法對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn),并可用基本校準(zhǔn)和溫度系數(shù)校準(zhǔn)法對(duì)測(cè)頭的系統(tǒng)誤差進(jìn)行修正。
l 具有存儲(chǔ)功能:Z多可存儲(chǔ)500個(gè)測(cè)量值。
l 具有刪除功能:對(duì)測(cè)量中出現(xiàn)的單個(gè)可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除,也可刪除存儲(chǔ)區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù),以便進(jìn)行新的測(cè)量。
l 可設(shè)置限界:對(duì)限界外的測(cè)量值自動(dòng)報(bào)警。
l 具有電源電量指示功能。
l 操作過程有蜂鳴聲提示。
l 設(shè)有三種關(guān)機(jī)方式:手動(dòng)關(guān)機(jī)方式、超時(shí)自動(dòng)關(guān)機(jī)方式以及低電量自動(dòng)關(guān)機(jī)方式,并可設(shè)置超時(shí)自動(dòng)關(guān)機(jī)等待時(shí)間
測(cè)頭類型 | F | N | |
工作原理 | 磁感應(yīng) | 渦流 | |
測(cè)量范圍(μm) | 0~2000 | 0~1500 銅上鍍鉻 0~40 | |
低限分辨力(μm) | 0.1 | 0.1 | |
示值 | 零點(diǎn)校準(zhǔn)(μm) | ±(3%H+1) | ±(3%H+1) |
兩點(diǎn)校準(zhǔn)(μm) | ±[(1~3)%H+1] | ±[(1~3)%H+1] | |
測(cè)試條件 | Z小曲率半徑(mm) | 凸1.5 | 凸3 |
Z小面積的直徑(mm) | Φ7 | Φ5 | |
基體臨界厚度(mm) | 0.5 | 0.3 |
l 溫度:0℃~40℃
l 濕度:20%RH~90%RH
l 無強(qiáng)磁場(chǎng)環(huán)境
l 二節(jié)5號(hào)堿性電池(1.5V)
l 外形尺寸:151mm×76mm×38mm
l 重量:約240g(不含電池
ML-200S涂層測(cè)厚儀
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